系统采用一板1区的控制方式，共配置16套独立工作的控制检测板，每套控制检测板独立控制、监测、记录、通讯。

整机共16个老化板通道，每个老化通道对应1块由单片机控制的控制检测板，实现每个老化板的测量与老化由独立系统控制完成。

每块试验板独立测试工位80位，电压并联模式，测试漏电流相互之间不干扰。

系统采用工控机进行操作控制，配置大屏幕液晶屏；

1. 试验工位：整机可检测工位为16板×80位/板=1280位

                     试验器件体积越大，电压越高，则试验工位相应减少。

2. 试验温度：室温+10200℃

3. 可试验电压范围：02000V

4. 漏电流测量范围：0.01uA30mA

1. 可测试每个试验器件的漏电流。

2. 可测试每个老化板通道的试验电压值。

3. 可测试高温箱的试验温度0200℃。

1：高温试验箱：具有独立于系统的超温报警装置，当试验箱超温时，可自动切断试验箱加热电源，终止加热状态，以确保老化器件温度条件的安全性。

2：具有试验器件短路脱离试验功能，通过每个试验器件对应一个熔断保险丝，可自动将故障器件脱离老化试验回路，不影响其他器件的正常试验。

3: 系统具有双重过压保护功能，当试验电源由于误操作或电源故障造成过压时，电源会自动立即将输出关闭；同时相应控制检测板自动将老化电源和试验器件脱离。以保证半导体器件试验的安全性、可靠性，避免非器件原因造成的器件失效。

4: 系统控制板采用试验回路和控制回路全隔离的方式，同时采用独特的高压抑制、吸收保护电路，避免半导体器件在加电或短路瞬间、高压回路对控制系统可能造成的干扰和损坏。

1. 软件系统具有完善的数据库管理功能，针对各种不同型号的试验器件，可单独编制独立的器件参数，形成器件库，每次试验可直接调出相应器件的器件库，无需复杂的参数设置、流程编辑、保护参数的设置等。

2. 控制操作简便，只要器件库参数发送到相应的老化板通道，使用人员无需其他操作，系统即可自动进入自动加电、检测、监测、记录状态。

3. 可根据需要建立二极管器件库、三极管器件库、MOS管器件库、功率MOS管器件库等；器件库具有可编辑、新建、删除等功能；可方便调阅、查看对应器件型号的器件库。

4.每个试验区分别设置漏电流上限，系统在线实时检测所有工位的漏电流，实时判断检测结果是否超过设定的上限，若超过，自动记录报警工位，并在超限器件分布图显示相应工位号。

5. 试验数据: 系统可根据测试数据（漏电流、试验电压和试验箱温度）自动形成相应文件（EXCEL标准格式,表格和对应时间曲线绘制两种形式输出），可随时查阅某一时刻所有试验工位的试验参数，并可通过U盘接口输出所有试验数据。

6. 控制软件系统可对每一块老化板进行单独控制，可以进行开始、暂停、继续、终止操作。

7. 可实时显示半导体器件的漏电流参数、每个老化板通道的试验电压值、老化板插板状态（自动识别是否加入了老化板）、试验器件故障状态、试验箱的实际试验温度值、已试验时间/总试验时间进程等；当前的试验状态直观显示。

8. 每个老化板通道可任意设置老化时间，试验进程自动控制。

9.系统自检功能。